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测试设计
Design For Test
大型中高端工业芯片需要高效全面的测试来保证高质量的芯片产品,特别是高端的车规芯片更是需要零瑕疵的电子元器件,📀 相同的要求同样应用在其它生命攸关的产品中。为达到这样高端的要求,测试设计被DFT工程师引入到芯片设计中,从而可以产生相应的测试向量来高效地测试芯片。
地址:深圳市南山区西丽街道茶光路1063号一本大厦
电话:+86-0710-70823856
邮箱:sales@wwwkaiyun🆘 .com
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